一、概述

SE-VE 是一款超高性价比、快速测量光谱椭偏仪，紧凑集成设计，使用简便，可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。

• 超高性价比光学椭偏测量解决方案；
• 紧凑集成化设计，极致用户操作体验；
• 一键快速测量分析，人机交互设计，使用便捷；
• 丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力

二、产品特点

■ 采用高性能进口复合光源，光谱覆盖可见到近红外范围 (400-800nm)；

■ 高精度旋转补偿器调制、PCRSA配置，实现Psi/Delta光谱数据高速采集；

■ 数百种材料数据库、多种算法模型库，涵盖了目前绝大部分的光电材料；

三、产品应用

广泛应用于科研/企业中各种单层到多层薄膜膜厚以及光学常数等快速表征分析。

技术规格